METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

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Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 341 a 360 di 456
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EUROMET Comparison 633: Calibration factor measurements of thermistor mounts up to 18 GHz / Brunetti, Luciano; E., Vremera. - (2001). 2001 BRUNETTI, LUCIANO + -
Valutazione dell’incertezza in campi di misura con particolare riguardo agli strumenti elettrici multifunzione / Cassiago, Cristina. - (2000), pp. 1-17. 2000 CASSIAGO, CRISTINA -
Activation and Variable Range Hopping in the IQHE / Priarone, P; Allasia, D; Cassiago, Cristina; MARULLO REEDT, G; Rinaudo, G; Truccato, M.. - (1998), pp. 9-9. 1998 CASSIAGO, CRISTINA + -
Participation of IEN to CCEM-K7: Comparison of alternating voltage ratio using an inductive voltage divider / Callegaro, Luca; D'Elia, V.. - (2003), pp. ---. 2003 CALLEGARO, LUCA + -
Processo di magnetizzazione e perdite di energia in leghe ferromagnetiche amorfe / Appino, Carlo. - (1992). 1992 APPINO, CARLO -
Criticità concettuali e pratiche nella mise en pratique della nuova unità di massa / Bich, Walter. - (2008). 2008 BICH, WALTER -
On the Linearity of Power Sensors Used in the Six-Port Reflectometer / Brunetti, Luciano; R., Ruggeri. - (1993). 1993 BRUNETTI, LUCIANO + -
CCT-WG5 on radiation thermometry: Uncertainty budgets for realisation of scales by radiation thermometry / Fischer, J; Battuello, Mauro. - (2003), pp. 1-25. 2003 BATTUELLO, MAURO + -
Contribution of the Material Department to the european contract INCO-COPERNICUS CT96-0817 "Characterization of Industrial and Advanced Magnetic Steels" / L., Rocchino; Appino, Carlo. - (2000). 2000 APPINO, CARLO + -
Noise Analysis in the Bolometer Detectors for High frequency power Standards / Brunetti, Luciano; M., Petrizzelli. - (1993). 1993 BRUNETTI, LUCIANO + -
International comparison CCEM.RF-K8.CL: measurement of the calibration factor of coaxial bolometer mounts in the frequency range 10 MHz – 18 GHz / Brunetti, Luciano; P., Terzi. - (1998). 1998 BRUNETTI, LUCIANO + -
Compensatore sincrono per equilibramenti automatici in sistemi di misura in bassa frequenza / D'Elia, V; Callegaro, Luca; Cabiati, F.. - (1998), pp. ---. 1998 CALLEGARO, LUCA + -
Uncertainty Evaluation by means of a Monte Carlo Approach / Bich, Walter. - (2008). 2008 BICH, WALTER -
Analisi sperimentale della conduttività longitudinale in dispositivi per effetto Hall quantistico / Priarone, P; Cassiago, Cristina; MARULLO REEDTZ, G; Rinaudo, G.. - (1999), pp. i-56. 1999 CASSIAGO, CRISTINA + -
Measurement of mass and conventional mass value of mass standard / Bich, Walter. - (2008). 2008 BICH, WALTER -
Atomic force microscopy: an overview / D., Patroi; Coisson, Marco; Ferrara, Enzo. - 693:(2005). 2005 COISSON, MARCOFERRARA, ENZO + -
Realizzazione di un partitore di tensione 1:10 per la taratura di sorgenti di tensione allo stato solido / Capra, PIER PAOLO. - 426:(1992). 1992 CAPRA, PIER PAOLO -
Report on the activity of IT-CsF1 Primary Frequency Standard during 2007 / Levi, Filippo; Calonico, Davide; L., Lorini; A., Godone. - 21:(2008). 2008 LEVI, FILIPPOCALONICO, DAVIDE + -
Report on the activity of IEN-CsF1 Primary Frequency Standard during 2005 / Levi, Filippo; Calonico, Davide; L., Lorini; A., Godone. - 19:(2006). 2006 LEVI, FILIPPOCALONICO, DAVIDE + -
INRIM activity relevant to CCM-WGM / Bich, Walter. - (2008). 2008 BICH, WALTER -
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Tipologia
  • 5 Altro456
Autore
  • GERMAK, ALESSANDRO FRANCO LIDIA103
  • GALLIANA, FLAVIO57
  • ORIGLIA, CLAUDIO44
  • STEUR, PETRUS PAULUS MARIA39
  • D'AGOSTINO, GIANCARLO33
  • CAPRA, PIER PAOLO32
  • BICH, WALTER25
  • BRUNETTI, LUCIANO24
  • MAZZOLENI, FABRIZIO24
  • CALLEGARO, LUCA22
Data di pubblicazione
  • 2020 - 202425
  • 2010 - 2019147
  • 2000 - 2009190
  • 1990 - 199985
  • 1984 - 19899
Editore
  • INRIM2
Rivista
  • NANOTEC IT NEWSLETTER1
Keyword
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