Suspended DNA structural characterization by TEM diffraction / Marini, M.; Allione, M.; Lopatin, S.; Moretti, M.; Giugni, A.; Torre, B.; di Fabrizio, E.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 187-188:(2018), pp. 39-42. [10.1016/j.mee.2017.11.020]
Suspended DNA structural characterization by TEM diffraction
Marini, M.;Torre, B.;di Fabrizio, E.
2018
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