A new low-uncertainty measurement of the31Si half-life / D'Agostino, Giancarlo; Di Luzio, M; Mana, Giovanni; Oddone, M.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - 54:3(2017), pp. 410-416. [10.1088/1681-7575/aa6edf]
A new low-uncertainty measurement of the31Si half-life
D'AGOSTINO, GIANCARLO;Di Luzio, M;MANA, GIOVANNI;
2017
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
dagostino_et_al.pdf
accesso aperto
Tipologia:
accepted manuscript (author’s post-print)
Licenza:
Pubblico - Tutti i diritti riservati
Dimensione
184.81 kB
Formato
Adobe PDF
|
184.81 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
2017 dagostino halflife.pdf
non disponibili
Tipologia:
final published article (publisher’s version)
Licenza:
Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione
945.41 kB
Formato
Adobe PDF
|
945.41 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.