"Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research project / Höpe, Andreas; Koo, Annette; Verdu, Francisco M.; Leloup, Frédéric B.; Obein, Gaël; Wübbeler, Gerd; Campos, Joaquín; Iacomussi, Paola; Jaanson, Priit; Källberg, Stefan; Šmíd, Marek. - 9018:(2014), p. 901804. (Intervento presentato al convegno IS & T Electronic Imaging and SPIE tenutosi a San Francisco nel 24-27 febbraio 2014) [10.1117/12.2035981].
"Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research project
IACOMUSSI, PAOLA;
2014
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
