Applications of a 3D BEM model for predicting stray capacitance in high voltage measuring devices / Bottauscio, Oriano; Chiampi, M; Saracco, O; Sardi, Angelo; Zucca, Mauro. - (1998), pp. 145-154. (Intervento presentato al convegno 2nd Eurobem tenutosi a Southampton (UK) nel 1998).

Applications of a 3D BEM model for predicting stray capacitance in high voltage measuring devices

BOTTAUSCIO, ORIANO;SARDI, ANGELO;ZUCCA, MAURO
1998

1998
2nd Eurobem
1998
Southampton (UK)
none
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