A high resistance measurement setup for MOS sensing materials characterization / Capra, PIER PAOLO; Galliana, Flavio; M., Latino; A., Bonavita; N., Donato; G., Neri. - 268:(2013), pp. 149-154. (Intervento presentato al convegno 17TH AISEM ANNUAL CONFERENCE).

A high resistance measurement setup for MOS sensing materials characterization .

CAPRA, PIER PAOLO;GALLIANA, FLAVIO;
2013

2013
17TH AISEM ANNUAL CONFERENCE
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