Depth Profiling of Defects in a-Sih Films by Means of Modulated Photocurrent / Amato, Giampiero; G, Giorgis; F, Fizzotti; F, Manfredotti. - In: SOLID STATE COMMUNICATIONS. - ISSN 0038-1098. - 86:(1993), pp. 277-280.

Depth Profiling of Defects in a-Sih Films by Means of Modulated Photocurrent

AMATO, GIAMPIERO;
1993

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