Sub-micron SNIS Josephson junctions for metrological application / DE LEO, Maria; Fretto, MATTEO ANDREA; Sosso, Andrea; Enrico, Emanuele; Boarino, Luca; Lacquaniti, V.. - In: PHYSICS PROCEDIA. - ISSN 1875-3892. - 36:(2012), pp. 105-109. [10.1016/j.phpro.2012.06.054]
Sub-micron SNIS Josephson junctions for metrological application
DE LEO, MARIA;FRETTO, MATTEO ANDREA;SOSSO, ANDREA;ENRICO, EMANUELE;BOARINO, LUCA;
2012
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