Sub-nanometric Metrology for High Resolution Astrometric Interferometry / Bisi, Marco; F., Alasia; F., Bertinetto; P., Cordiale; G., Galzerano; Mana, Giovanni; M., Zangirolami. - (1998), pp. 339-341. (Intervento presentato al convegno 1998 Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Gaithersburg, Maryland, USA nel July 6-10, 1998).
Sub-nanometric Metrology for High Resolution Astrometric Interferometry
BISI, MARCO;MANA, GIOVANNI;
1998
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.