METRICA, l’archivio istituzionale della produzione scientifica dell’Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e pubblicare, anche ad accesso aperto, i prodotti della ricerca dell’Ente. METRICA utilizza la piattaforma IRIS (Institutional Research Information System) sviluppata da Cineca.

A precise two-channel digitally synthesized AC voltage source for impedance metrology / J., Nissila; K., Ojasalo; M., Kampik; J., Kaasalainen; V., Maisi; M., Casserly; F., Overney; A., Christensen; Callegaro, Luca; V., D'Elia; N. T. M., Tran; F., Pourdanesh; M., Ortolano; D. B., Kim; J., Penttila; L., Roschier. - (2014), pp. 768-769. (Intervento presentato al convegno 29th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014) tenutosi a Rio de Janeiro, Brazil) [10.1109/CPEM.2014.6898612].

A precise two-channel digitally synthesized AC voltage source for impedance metrology

CALLEGARO, LUCA;
2014
2014
29th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014)
Rio de Janeiro, Brazil
none
4.1 Contributo in Atti di convegno
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