Imaging of Si-crystal lattice by phase-contrast x-ray microscopy / A., Bergamin; G., Cavagnero; Mana, Giovanni; Massa, Enrico; G., Zosi. - (2000), pp. 107-108. (Intervento presentato al convegno CPEM tenutosi a Sydney Australia nel 2000 14-19 May).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.