ALOCCO, ALESSANDRO
ALOCCO, ALESSANDRO
QN Metrologia quantistica e nanotecnologie
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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Measurement and Calibration Approaches for Two-Port Scattering Parameters at mK Temperatures / Oberto, L.; Shokrolahzade, E.; Enrico, E.; Fasolo, L.; Celotto, A.; Galvano, B.; Alocco, A.; Mubarak, F. A.; Spirito, M.. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver (CO), USA nel 8-12 Luglio 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646000]. | 2024 | Oberto, L.Enrico, E.Fasolo, L.Celotto, A.Alocco, A. + | - |