Linearity Verification of a Reference System for Short-Circuit Current Calibration / Roccato, Paolo Emilio; Galliana, F.; Caria, S. E.. - International Congress of Metrology CIM 2025 "a new metrology for a sustainable industry and society":(2025). (Intervento presentato al convegno International Congress of Metrology CIM 2025 "a new metrology for a sustainable industry and society" tenutosi a Lione nel 11-14 March 2025).
Linearity Verification of a Reference System for Short-Circuit Current Calibration
Paolo Emilio ROCCATO
Conceptualization
;F. GallianaMembro del Collaboration Group
;S. E. CariaMethodology
2025
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