Linearity Verification of a Reference System for Short-Circuit Current Calibration / Roccato, Paolo Emilio; Galliana, F.; Caria, S. E.. - International Congress of Metrology CIM 2025 "a new metrology for a sustainable industry and society":(2025). (Intervento presentato al convegno International Congress of Metrology CIM 2025 "a new metrology for a sustainable industry and society" tenutosi a Lione nel 11-14 March 2025).

Linearity Verification of a Reference System for Short-Circuit Current Calibration

Paolo Emilio ROCCATO
Conceptualization
;
F. Galliana
Membro del Collaboration Group
;
S. E. Caria
Methodology
2025

2025
International Congress of Metrology CIM 2025 "a new metrology for a sustainable industry and society"
11-14 March 2025
Lione
none
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