Atomic force microscopy metrology of non-spherical nanoparticles / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo PICOTTO, Gian; Ribotta, Luigi. - (2020). (Intervento presentato al convegno 106° Congresso Nazionale Società Italiana di Fisica nel 14-18 Settembre 2020).

Atomic force microscopy metrology of non-spherical nanoparticles

Luigi Ribotta
2020

2020
106° Congresso Nazionale Società Italiana di Fisica
14-18 Settembre 2020
none
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11696/75140
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact